為因應未來集成电路晶片腳位數更多、速率更高、整合功能更為複雜的發展驅勢，色度超大规模集成电路測試系統3380D/3380P/3380除採用更彈性架構外，整合密度更高，且功能更強大。
3380D/3380P/3380機型為因應高同測功能（高并行测试）除內建獨特的四线功能高密度集成电路電源（六资料来源）外，更具備任何站点的任何PIN高同測功能(256數字通道管可並行測256個測試晶片)，以因應未來集成电路晶片更高的測試需求。
3380D/3380P/3380系列同時具備機框式直流電源供應的小型化、低耗能化設計及非常具競爭性的機台性價比。
3380D超大规模集成电路測試系統非常適合應用於物联网相關的晶片測試，尤其是一些具成本壓力的元件如整合功能之微控制器、微机电系统等，超大规模集成电路測試系統3380D/3380P/3380系列開發至今，已在大中華地區被廣泛的採用。
滿足各種應用範圍的晶片測試
如逻辑、ADDA、RF（MCU）、LED、电源、ALPG、匹配等
