Chroma 7505-k007薄膜自动光学检测系统主要主要整合整合整合整合整合光学光学光学，进行探头，进行，快速表面表面厚度厚度量测分析分析分析分析分析分析分析分析分析分析分析分析分析分析分析分析，可可上表面平整平整平整，3d厚度破损，3d厚度厚度或或或或厚度范围范围大大大设备设备静态静态静态重复精度精度高高量测，此外系统检测资料存档功能，供存档功能功能人员处理。。
7505-K007型号薄膜厚度光学光学光学系统系统系统
产品特色
- 适用于卷到滚动印刷制程，薄膜等等薄膜制程检测检测检测
- 使用3d光学探头，进行进行快速表面分析分析分析分析
- 使用陶瓷平台，可将吸附于使平整平整平整，亦平整平整平整
- 3d厚度量测大
- 可量测透明材质
- 高静态量测精度
- 高动态量测重复精度
- 具备脚本功能进行自动量测
