半导体制造是一个快速发展的行业。越来越多的设备与各种功能高度集成。必须建造资本设备以超过几代设备的几代和应用。具有多种可用选项，例如AD/DA转换器测试，用于存储器测试的ALPG，高压PE，多扫描链测试，VI45和PVI100 MPVI，ASO ANEOG测试选项和HDADDA混合信号测试选项，Chroma 3650可以提供一个广泛的覆盖范围，可让客户测试具有灵活配置的不同类型的设备。
Chroma 3650是SOC测试人员，具有高通量和高平行测试功能，可为Fables，IDM和测试房屋提供最具成本效益的解决方案。3650具有完整的测试功能，高精度，功能强大的软件工具和出色的可靠性，具有用于高性能微控制器，模拟IC，消费者Soc设备和晶圆排序应用程序的多功能测试功能。
低成本生产系统中的高性能
3650不仅可以通过降低测试人员系统的成本，而且还可以更快地测试更多设备和高平行测试能力来实现较低的测试成本。借助Chroma Pinf IC和复杂的校准系统，3650在±550PS范围内具有出色的整体定时精度。3650的模式生成器具有高达3200万的模式指令内存。通过具有与向量内存相同的深度，Chroma 3650允许为每个向量添加模式指令。
此外，强大的顺序模式生成器提供了各种模式命令，以满足复杂的测试向量的需求。无需插槽边界的真实测试架构和无插槽边界的灵活站点映射设计用于高吞吐量的多站点测试。最多可达640个数字引脚，32个设备电源，每个PIN PMU和模拟测试功能，3650可与具有成本效益的测试解决方案结合使用高测试性能和吞吐量。
高平行测试能力
3650的功能强大的，多功能的并行引脚电子资源可以同时在多个引脚上执行相同的参数测试。3650将64个数字引脚集成到一个单个LPC板上。在每个LPC板中，它包含16个高性能Chroma Pinf IC，该Chroma Pinf ICs支持4 4个通道计时发生器。本地控制器电路的集成可以管理资源设置和结果读数，因此切断了系统控制器的开销时间。借助任何针对任何站点的映射设计，3650最多可提供32个站点高吞吐量的平行测试功能，以扩大质量生产性能，并更加灵活，更容易布局。
灵活性
半导体行业是一个快速移动的行业，必须建造资本设备以超过几代设备的几代和应用。具有多种可用选项，例如AD/DA转换器测试，用于存储器测试的ALPG，高压PE，多扫描链测试，VI45和PVI100模拟选项，Chroma 3650可以确保它可以在未来几年内为您服务。
此外，Chroma 3650平台体系结构允许第三方供应商开发专注的仪器，可以轻松地为特定应用程序添加。它可以通过在低成本生产测试系统中覆盖比以往任何时候都更广泛的设备来扩展测试的界限。
小足迹
3650借助空气冷却和小的脚印测试仪，在高度集成的包装中提供了高吞吐量，以提供最小的地板空间。大型机柜包含配电单元和第三方仪器的空间。使用可选的操纵器，可以在包装和晶圆测试中使用3650。