满足所有类型半导体元件的测试需求
半导体技术的进步推动着世界发生变化。这是人工智能与5G相结合的时代，是自动驾驶汽车与大数据分析相结合的时代，一切都整合到便携式设备中。半导体测试系统需要转型到一个新时代，在这个时代，各种功能都需要集成到移动设备中微型系统。新兴的基于PXIe的平台为满足新时代的需求提供了良好的可行途径。Chroma的PXIe半导体测试解决方案为我们的客户提供了一个多功能的工作场所，以完成半导体测试，同时集成来自不同供应商的功能性仪器模块。
半导体测试级设备电源
基于Chroma 33020 PXIe的可编程电源卡是一个高度集成的电源模块，它提供了半导体测试所需的一切。它具有最高密度的8个独立可编程直流电压，在250mA时为-6V至12V，在500mA时为6V，具有可编程电压和电流箝位。输出可与高达4A的输出电流连接在一起。对于半导体测试应用，这些设备电源还具有16位力电压电平和18位测量电压分辨率，采样率为500ksps，具有更高的精度。设备设置时间也大大缩短，设置时间从50uS到500uS，以达到所需的最高测试速度。
专有软件、工艺等丰富的软件支持功能
除了支持LabView和LabWindows环境外，Chroma还提供了一个专有软件套件CRAFT。CRAFT运行在Microsoft Windows操作系统上，包含从测试程序开发、调试、生产和维护到半导体测试的全套工具。生产工具包括易于使用的GUI软件，如操作员界面、测试数据输出、装箱和顺序控制、晶圆图、摘要工具和富集prober/handler驱动程序。用户调试工具包括数据日志、计划调试、TCM、Shmoo、模式编辑器、波形等。它还支持LabView和LabWindow环境，并提供了调试工具的子集。此外，还支持第三方CAD到ATE模式转换工具，以涵盖WGL/STIL/VCD/EVCD转换。