解决所有类型的半导体组件的测试需求
通过半导体技术的进步，世界被迫改变。这是人工智能符合5G的时间，当自动汽车符合大数据分析时，所有内容都合并到便携式设备中。半导体测试系统需要转换为新的时代，其中各种特征需要集成到一个微小的系统中。新兴的PXIe基础平台提供了一个良好的可行路径，以满足新时代的需求。Chroma的PXIe半导体测试解决方案为我们的客户提供多功能工作场所，以完成半导体测试，同时集成来自不同供应商的功能仪器模块。
半导体测试类设备电源没有妥协
Chroma 33020基于PXIE的可编程电源卡是一个高度集成的电源模块，附带了半导体测试所需的一切。它具有最高密度的8个独立的可编程DC电压，在-6V至12V，在500mA处，500mA，可编程电压和电流夹紧。输出可以加入高达4A的输出电流。对于半导体测试应用，这些设备电源还具有16位力电压电平和18位测量电压分辨率，以500KSPS采样率，可提供卓越的精度。设备设置时间也大大提高，稳定时间从50us到500us实现所需的最高测试速度。
专有软件，工艺品和其他丰富的软件支持功能
除了支持LabVIEW和LabWindows环境之外，Chroma还提供专有的软件套件工艺品。Craft在Microsoft Windows操作系统上运行，包含从测试程序开发，调试，生产和维护的半导体测试的全套工具。生产工具包括易于使用的GUI软件，如操作员界面，测试数据输出，分布和序列控制，晶片图，摘要工具和丰富的设置探测器/处理程序驱动程序。用户调试工具包括数据记录，计划调试，TCM，Shmoo，模式编辑器，波形等。它还支持LabVIEW和LabWindow环境，并提供调试工具的子集。此外，还支持第三方CAD以涵盖WGL / STIL / VCD / EVCD转换。