微型ic测试测试分类机型3270

微型ic测试测试
产品特色
  • CMOS影像影像元件量产需求需求
  • 可靠的高速pick&place分类机
  • 3x3mm微型ic处理能力
  • 浮动头有效率平衡压力压力
  • ic残留检测功能


Chroma 3270是一创新的微型微型,CMOS影像元件(CMOS Image Sensor,CIS)量产量产需需,Chroma 3270可可可可配合配合多多种种不同的的的及csp封装。chroma 3270采用pick&place技术

Chroma 3270能处理处理处理同时平行,50˚C〜125˚C〜125˚C高温测试选择不但提高提高,提升,提升,同时,同时


产品询价

请勾选的产品,并并选「加入」。。。
您可以多产品,并产品产品网页询价车图示询价。

所有规格更改,恕不另行。。
选择
型号
叙述

微型ic测试测试