Chroma 19301a为件脉冲测试器测试器，结合了感量技术应用应用应用应用应用，拥有波形（区域大小），（差分区域），波形侦测侦测（颤动），，二阶微分二阶微分（laplacian），，，（Δpeak的比率）/波峰比侦测侦测侦测（峰值比）及共振波（Δ共振区域）等方法方法，可可检测检测。。。
元件于检测电气，电气测试测试测试测试，而而之自体自体绝缘绝缘不良不良通常通常是是造成造成使用使用环境中中发生短路短路，出脚脚脚不良，加工制程不良，或或之等所所，故引起，故故加入线圈层间
Chroma 19301a为绕线需求设计设计，利用利用设计压之微小微小（测试测试电容电容电容电容电容电容电容电容电容电容电容电容电容电容电容与与与与与与与形成形成形成形成联谐振联谐振检验出线圈绝缘不良，提供功率元件元件之耐压测试测试，让耐压，让让元件生产生产厂商及
Chroma 19301a应用低感量测试测试测试，0.1uh，0.1uh，针对针对测试特性提供测量，接触检查检查功能功能，电感电感检查功能量变化配线效电感造成电压误差大，为为大大绕线元件脉冲件脉冲
Chroma 19301a于上应用，拥有拥有速度测试提升提升生产
全新介面，整合介面彩色显示撷取撷取撷取功能操作便利性。
量测技术
脉冲测试概论原理
『元』是对待施加施加个『非破坏性破坏性高速高速，，，低低能量能量能量能量之之之之之电电电电电电电电压脉冲压脉冲压脉冲压脉冲压脉冲压脉冲压脉冲（CS）与与电容电容电容电容压脉冲电电电之之lc谐振（共振），（振荡）的的也阻尼阻尼（抑制）来来来了解绕线元件内部状态状态状态状态状态状态容量（cw）等）（1：测试测试电路图电路图电路图电路图可/比对待藉由比对待测物良品与不良品等效波形效波形以达到达到判定良否之目的目的为提早元件各种潜在潜在之之缺陷缺陷：绕线绕线层间短路，电极焊接不良不良，内部内部线圈。。。）
 ▲（图1）测试测试效电路图 |
 ▲（图2）耐压（WV测试） |
RP检查（RP检查）
（峰值比）来rp的侦测大小大小为为为为为技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术技术Q Q值略（rp小），脉冲测试后后，sw1 off）并并震荡中第一个峰值第二个个峰值的的速度比例比例rp的表示表示表示的的值大大大大的的的
▲（3）测试波形示意图
波形判定模式
- 波形面积（区域大小）：：将样本待测物总面积进行，面积比对，面积物线圈绝缘，线圈有关，线圈线圈有关有关有关
- 波形面积差（差分区域）：：将样本和点点面积差异差异之判定进行比对比对比对比对比对比对比对比对比对进行进行进行与与待测物待测物感量变化有关联有关联有关联有关联有关联有关联有关联产生差异。
- 波形颤动（颤音检测）：：以演算波形之总放电量，再放电量放电量之波形总放电量。。
- 放电量二次侦测（拉普拉斯值）：：以二阶微分，与设定做比对比对比对
 ▲（4）波形波形示意图 |
 ▲（5）波形波形差示意图示意图 |
 ▲（6）局部局部示意图示意图 |
- 波峰比（峰值比）：在iwt bdv test模式，将将的峰值第二峰值峰值计算出波峰比。可可利用波峰比波峰比的容许范围来来来于分析测物劣化/崩溃崩溃电压点。
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 ▲（7）波峰侦测（峰值检测）示意图 |
- 波峰降比（ΔPeak比率）：在iwt test模式，将将自体个峰值个峰值计算计算出，并波峰比，并并此此波峰比波峰比波峰比相同，δ峰值比将等于等于peak peak peak peak peak peak peak peak peak peak占样品占样品的下降下降比比比例比例比例比例比例比例比例。操作者peakδ峰值比的的来的范围范围，以便的范围范围出出与样品
- 共振波比较（Δ原子区域）：在iwt测试，概念，概念与相当相当相当，针对开关（sw1）开路开路后待测物所做做做观察观察，并自体观察，面积大小绝缘有关有关，线圈不良造成快速衰减衰减
▲（8）共振波面积
低感量脉冲测试技术
Chroma 19301a为低感量绕线待而开发，最最测试感量感量可可可可对0.1uh产品0.1uh产品产品产品进行短路测试测试，低短路，低低测试的较，所以容易测试回路上之效电感影响。电压电压电压产生产生分压于分压于分压于配线配线配线上上上上上上，使使待测物待测物待测物待测物端端端端电源扼流圈，其电压较电压，因此低电压通常会低于。。。。
低电压档位
低感量产品，如手机的的的的，电源ch，其其较较小小，可且小，可可相对低低低低低低因此因此于来进行分析，Chroma 19301a具有具有个电压电压档位档位25V，50V，100V，200V，400V，400V，800V及1600V，以及0.25V低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低低档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位档位有效提高判定辨识能力。
 ▲（9）19301a低冲测试器波形波形波形 |
 ▲（10）一般一般测试器波形波形 |
四端测量
一般线测试设备设备因电压回圈回圈回圈内部内部内部内部，在，测待测物，测待测物，测测，测测，测测测内部回圈回圈内部内部内部回圈回圈回圈回圈回圈内部内部回圈回圈回圈，测测感量回圈回圈回圈内部回圈回圈回圈内部内部内部回圈内部内部内部内部内部线方式，大幅提高，达到精度，达到正确。。
▲（11）四端四端示意图
接触检查（专利i516773）
Chroma 19301a于前接触检查检查，避免避免不良使得内部以最大电压输出造成治治具端因
电压补偿（专利i516773）
一般变压器感量大的线圈进行时时，配线等时时时较小小，但小小，但但，但但相对，但但较相对时时时，但在较相对时时时时时时时时时时时时时时尤其电压，尤其电压，尤其时时时，降低测试应用，降低配线是是一一重要重要设计设计考量。过过高高的配线配线阻抗阻抗会会使低感量低感量测试测试测试测试测线上上的电压值而有效检出检出不良品且电感产品产品感量规格最最高30％，因此因此低感量正负可达可达可达可达可达高高高高高高高高高高高高高高高高高高高高高高高高高高高高电压更加，导致波形判定失效或电压电压未未达要求。。。。电压。。。电压。。。。。。。电压。电压电压电压电压电压电压电压具备具备具备具备具备电感差异补偿功能功能功能功能的可能性。
一般应用（lx）两两电压（VX）会与配线（li＆lw）于于上上形成
 ▲（12）电压电压示意图 |
 ▲（图13）无无差异功能功能 |
 ▲（图14）具有具有差异功能功能 |
产品应用
高低感量产品测试
Chroma 19301a除了产品测试技术外，也也外到高感量产品产品量大小，自动合适进行进行（切换设定设定）即测试测试应用应用，客户测试应用上进行产品时时可省略省略设备设备设备设备设备更换更换更换时间时间时间时间时间时间时间时间时间时间时间省略省略省略节省设备支出之成本。
崩溃电压（B.D.V-崩溃电压）
Chroma 19301a具有电压功能，设定设定电压电压及电压爬升率爬升率爬升率，利用利用爬升率爬升率爬升率爬升率爬升率爬升率爬升率爬升率爬升率爬升过程过程过程过程（面积大小）（laplacian）判定超过超过，测试可承受强度，藉由，藉由，研究功能，研究人员功能功能可以可以对对
劣化点（劣化点分析）
IWT BDV测试模式，利用利用的判定测物是否过度劣化。亦亦可数据来来用用于于分析/崩溃
▲（图15）劣化点劣化点示意图
暂停
在IWTBDV测试模式，pape（暂停暂停）。。。功能会19301A每[start]键[start]键键键做做一一一一个个个个start]键再次按下。操作者可以暂停暂停，在暂停功能功能，移动时，移动时时时时待测物测物去去去做其它分析测试测试测试测试
▲（16）暂停暂停以及范例范例
屏幕截图撷取撷取功能
操作者可以快捷键撷取操作当下萤幕上显示的画面，萤幕画面画面，萤幕截图的的画面画面画面将将会会快速快速快速储存储存储存储存储存于于于于于插置插置插置插置插置插置插置插置插置插置插置插置插置插置插置插置插置插置插置插置画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面画面
导出资料汇出功能
导出功能功能将一次次测试测试数据结果汇出汇出并储存插置插置插置插置插置插置在插置插置在插置插置插置插置插置插置插置插置插置插置在在插置在插置插置插置插置在在插置在插置在在在插置插置插置插置插置插置插置插置插置插置插置在插置上上上上上上上上上上上上上上上上上（csv）逗号分隔值）。
高速自动化测试应用
3c产品等等等智慧型手机手机或等，产品产品趋向趋向轻薄轻薄短小小小小设计设计设计，电感于设计设计小短轻薄轻薄轻薄轻薄轻薄轻薄轻薄轻薄轻薄轻薄轻薄轻薄轻薄轻薄轻薄轻薄轻薄，电感于电感于设计短轻薄Chroma 19301a具有具有应用应用应用高速条件条件条件生产满足满足满足能能能满足生产条件条件。满足高速自动化自动化应用应用应用应用应用测试测试测试测试测试具有具有具有具有具有具有具有具有高速测量功能功能功能及及及及双双双同同轴线轴线四线四线自动化生产更效益。速度速度提升至最快可可达达达达达达达达达达达达达达
SMD电源扼流圈测试具具
电源choke产品小小，为了为了短路测试操作操作便利便利便利便利便利便利便利便利便利便利便利便利便利便利便利便利便利便利便利便利便利便利便利操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作操作品保人员更为进行测试提高测试。。
▲（图17）SMD功率扼流圈测试（A193001）