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画廊视图 列表视图 晶圆级测试 光子学晶圆探测测试系统58635型系列 最高可达6英寸wafer 支持QCW和CW的运作 LIV测试,近场测试,远场测试,LIV-λ和NF二合一测试 添加到查询购物车 晶片芯片检测系统型号7940 同时双面色检 6" wafer/8" inspection area 晶片自动对齐 薄片形状/边缘识别 添加到查询购物车 包级别测试 光电模块测试系统型号58625 一体化测试系统 柔性试验台布置 温度控制精确-20~85℃ 大波束角测量 添加到查询购物车 激光二极管老化和可靠性测试系统型号58604 适用于老化、可靠性和寿命测试 ACC和APC老化模式 单独通道驱动和测量。最高500mA驱动每通道 精确的温度控制可达125°C 个人模块操作 添加到查询购物车 激光二极管表征系统型号58620 边发射激光二极管全交钥匙自动测试 高精度、大容量载体,可与其他自动化设备互换 光纤耦合测试的全自动校准 添加到查询购物车 激光二极管可靠性,老化和寿命测试系统型号58602 老化,可靠性和寿命测试 多达4608个频道 每台设备高达20A 添加到查询购物车 TO-CAN包装检验系统型号7925 可检测TO-CAN包装的镜片划痕、裂纹、颗粒及金属盖缺陷 用于通用的通过/失败标准设置的缺陷标准编辑器 吞吐量高于UPH 3600 添加到查询购物车
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包级别测试 光电模块测试系统型号58625 一体化测试系统 柔性试验台布置 温度控制精确-20~85℃ 大波束角测量 添加到查询购物车 激光二极管老化和可靠性测试系统型号58604 适用于老化、可靠性和寿命测试 ACC和APC老化模式 单独通道驱动和测量。最高500mA驱动每通道 精确的温度控制可达125°C 个人模块操作 添加到查询购物车 激光二极管表征系统型号58620 边发射激光二极管全交钥匙自动测试 高精度、大容量载体,可与其他自动化设备互换 光纤耦合测试的全自动校准 添加到查询购物车 激光二极管可靠性,老化和寿命测试系统型号58602 老化,可靠性和寿命测试 多达4608个频道 每台设备高达20A 添加到查询购物车 TO-CAN包装检验系统型号7925 可检测TO-CAN包装的镜片划痕、裂纹、颗粒及金属盖缺陷 用于通用的通过/失败标准设置的缺陷标准编辑器 吞吐量高于UPH 3600 添加到查询购物车