VLSI테스트시스템型3380

vlsi테스트시스템
주요특징
  • 50/100MHz클럭속도
  • 50/100Mbps데이터속도
  • 1024 i/o핀(최대:1280 i/o핀)
  • 1024사이트사이트테스트테스트
  • 32/64 M패턴메모리
  • 다양한vi소스
  • 유연한hw-아키텍처(교체i/o,vi,adda)
  • 실제/매치/매치기능
  • tfmu(시간및측정유닛)
  • HSTMU(고속시간유닛)
  • AD/DA테스트옵션
  • 扫描테스트(최대1gm/체인)
  • 포함된메모리대한대한대한테스트테스트
  • STDF도구지원
  • 테스트/패턴/패턴(J750,D10,V50,E320,SC312,V7,TRI-6020,ITS9K)
  • Windows 7환경사용자친화친화적적
  • 工艺C/C ++프로그래밍언어
  • 3380p및3360p와동일한sw(소프트웨어)

为了应对当今半导体行业中高速,无数引脚的IC测试趋势以及复杂功能的整合,Chroma的3380 VLSI测试系统,3380D/3380D/3380P/3380模型,已根据不同的PIN测试能力和平行测试能力采用了强大的功能,提供完整的测试解决方案,以满足客户在成本和绩效方面的需求。

配备最多1280 I/O通道,256个VI源,灵活的体系结构和全面的可选功能板(ADDA/HI-WODTAGE DPS)的3380 VSLI测试系统可以满足高平行的多站点测试趋势。嵌入式1024 I/O引脚能够并行测试1024 IC。除了支持唯一的4线HD VI源ICS外,3380还可以通过其可调节结构来测试Mini&Micro LED驱动器IC,CMOS图像传感器(CIS)和3D图像,该结构涵盖了IC的广泛应用程序测试。

3380可以桥接到3380d(256引脚) /3380p(512引脚),以达到更高的生产率要求。无论是安装,稳定性,友好的用户界面或高成本/性能比率,3380系列VLSI测试系统都已被大中国市场广泛证明和采用。

申请

  • MCU设备
  • ADC/DAC混合信号IC
  • 逻辑IC
  • adda
  • Alpg
  • 智能卡
  • CMOS图像传感器(CIS)
  • 电力IC(D级IC)
  • 消费者IC
  • LED驱动器IC

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