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SoC試験システム
高機能SOC /模拟テストシステム
型号3680
- デジタル測定及びアナログ測定基板を24枚実装可能(組合せ自由)
- 最大データレート150 Mbps
- 512年最大パラレルテスト対応
- 2048年最大デジタルI / Oピン
先进SoC/模拟测试系统
型号3650
- 应用范围:MCU, ADDA/Memory, Controller, PMIC，以及各种消费类产品
- 可扩展平台，多达640个通道
- 50/100 MHz, 200 MHz (MUX)测试速率
- 各种高密度选项，从模拟，ADDA，混合信号，TIA
VLSI試験システム
VLSI测试系统
模型3380便士
- 100Mhz时钟速率，512 I/O通道(最大576引脚)
- 多达512个站点并行测试
- 各种VI源
- 灵活的架构:插槽可互换的I/O, ADDA, VI源
VLSI测试系统
模型3380 d
- 100 MHz时钟速率，256个I/O数字I/O引脚
- 多达256个站点并行测试
- 各种VI源
- 灵活的hw架构(可互换的I/O, VI, ADDA)
VLSI测试系统
型号3380
- 100Mhz时钟速率，1024个I/O通道(最大1280个引脚)
- 多达1024个站点并行测试
- 各种VI源
- 灵活的架构:插槽可互换的I/O, ADDA, VI源
PXIeユニバーサルリレードライバコントローラモジュール
型号33011
- PXIeベースのユニバーサルリレーコントローラ
- 32チャンネルダイレクトリレードライバ
- 2レーンSPIリレーコントロールインターフェース
PXIeプログラマブル高速デジタルIOカード
型号33010
- PXIeバス接続
- 最大周波数:100 mhz
- チャンネル数:32(最大256 chまで拡張可能)
- 3380 d / 3380 p / 3380と互換性のあるプログラム
ピックアップ&プレースハンドラ
低高温(ATC) ICテストハンドラ
模型3110英尺
- 設定可能温度-40 ~ 125℃
- 英国《金融时报》試験及びSLT試験対応
- 測定可能パッケージ寸法3 x3毫米~ 45 x45毫米
- コンタクト圧制御可能範囲1 ~ 10公斤(オプション)
混合单站点测试处理程序
型号3110
- 可选三温IC测试功能(标准:-40℃~135℃，可选:-55℃~150℃)
- FT+SLT处理器(二合一)
- 完美的设备工程特性收集和分析
- 自动托盘装载/卸载和设备分类能力
- 零等待时间
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