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3D光学プロファイラ
3D光学プロファイラー
7503型
- 白色光干渉测定による高精度非破壊検查
- モジュールモジュール设计によるによる拡性性高度システム
- 断面差，夹角，面积，寸法，粗さ，うねり，膜膜，平台など様々な测定测定
- 様々な3Dファイル形式の保存と読み取りが可能。
ウェーハチップ両面検查システム
7940型
- 両面同时カラー検查
- 最大6インチウェーハハンドリング可（検查エリア8インチ）
- 自动ウェーハアライメント机械
- ウェーハ形状/エッジ认识机械
- 欠陥検出率99％以上
多机の外観测定システム
7505-05型号
- 携帯电阻，スマートスマート，バッテリー，カバーカバーの外観制品质に対応
- 2D测定用の高解像度を実装
- 3D测定测定のラインセンサーを装配
- 2d＆3d测定を一台のマシン测定可
- トンネル型设计による高度测定
- 各テスト项目の外研制品质即时ヒストグラム提供
- SPC分享机械
- CNCナイフパターン除去技术
ミニledバックバックライト自动光学テストシステム
型号7661-K003
- 2Dカラーアナライザー71803-2は，ミニledの明る，色，および欠陥の分享ができます
- 试験项目：色度，明显さ，光度，均一性，电阻，电阻，デッドライト
- オプションの色度LEDパワーパワーと光学モジュールにより，テストシステムをを合
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