インダクタレアショート自動測定分類システム模型1871

  • CE标志
インダクタレアショート自動測定分類システム
特長
  • SMD型デバイス用試験システム
  • 対応サイズ:1.0毫米x 0.6 mm ~ 6.0 x 6.0毫米,高さ≦3毫米
  • テスト&パッキング速度:600 ~ 1500
  • レアショート判定機能
    • エリア
    • ラプラシアン
    • Δピークレシオ
    • Δレゾナントエリア
  • フィクスチャ(治具)寿命を延ばすコンタクトチェック機能搭載
  • 自動検査システムの要件に基づき2 ~ 5台のテストステーションを提供
  • 落下するインダクタを排除するインデックスディスク設計
  • 4端子測定法テスト設計
  • 各試験器ごとに独立したNG(不好)製品の排出ボックスを保有
  • ソフトウェアによるリアルタイム製品品質モニタリング
  • 多言語対応:中国語/英語/日本語
  • 高速,安定,安全なシステム設計
  • 操作選択:単発動作,全自動操作,リファレンスデータサンプリングから操作を選択可能。インパルス試験機1台~複数台で測定可能。
  • 状態表示:試料満杯時,不足時にエラー表示
  • 計数機能:计数器機能あり
  • ソフトウエアにはパラメータ設定機能あり(HMI和PLCにインパルス試験機のパラメータ設定機能なし)

レアショート試験

生産時の検査・測定において,巻線部品は製品の耐圧を保護するための検査を行います。例えばコイルの絶縁不良は普段使用する使用環境にて発生するレアショートによって引き起こされますが,これにより設計不良,成型加工不良,絶縁材料劣化等が発生します。そのため,レアショート試験を実施する必要性があります。

もし速度の遅い測定設備を使用しているなら,日々増加するカスタマーからの要求に対応することが出来ません。そこでクロマは測定器メーカーとして蓄えた専門知識を活用し,高速レアショート自動試験システムを開発しました。クロマの強みである測定器を組み合わせることで,高速かつ正確な自動化ソリューションを皆様へ提供致します。

最速1500 ppmの生産速度と同時測定機能

1871年は生産速度が最速1500 ppmの高速レアショート自動試験。カスタマーからの要求に素早く対応することができ,更なる利益を生み出すサポートをいたします。

また,複数プローブによる同時測定機能を保持しているので,開発初期段階に設備投資した測定器を,後に他の用途に再活用することができます。

データ収集ソフトウェア

現在,国際的に工場が要求する品質基準が厳しくなり,製造工程の品質や測定データの履歴を保管することは必須となっています。つまり製造工程のコントロールに必要な資料の保存や即時のデータ処理機能も産業設備に不可欠です。1871年そこででは専用のデータ収集ソフトウェアを完備しています。

系統化したパラメータ管理機能

  • ソフトウエア設定及び,測定パラメータ,検査規格を保存
  • 測定パラメータのバージョンと発行有無を管理

厳しい品質管理機能

  • 即時の良品率を監視/警告表示
  • 即時の工程管理図監視/警告表示

完全なデータ保存,トレース機能

  • 各測定器データを保存
  • ロット/良品率を記録
  • 生産工程管理図再現可能

対応規格

成型扼流は現在の市場で勢いのあるスマートフォンやタブレット型PCに使用されている素子です。1871では、各種メーカーの規格に準拠した測定可能であるとともに、サイズが近い素子に対しても部品交換のみで共用することができます。

作業部 動作


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インダクタレアショート自動測定分類システム

低インダクタンス用インパルス試験器

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