自动系统功能测试仪模型3260

自动系统功能障碍物
自动系统功能障碍物
  • 可靠的高速拾取和地方处理程序
  • 测试仪零等待时间
  • 鸥翼封装能力
  • 没有插座伤害
  • 用于联系平衡的空气阻尼器
  • IC-in-ocket保护
  • 发明专利190373,190377,1227324&125307
  • 热控制配置
    • Tri Temp Control.
    • 闭环有源热控制(ATC)模块
    • UNITY PTC(无源热控制)
    • 冷却管道

Chroma 3260是系统级别的高音量/多站点IC测试的创新处理。它能够处理各种类型的封装,包括QFP,TQFP,BGA,PGA等。处理程序使用拾取和放置技术从JEDEC托盘拾取设备,将它们移动到测试站点,然后将它们移动到适当的垃圾箱测试。

Chroma 3260可以在高温下与ATC(自动温度冷却)高达6个设备,从-40°C范围为-40°C至125°C。


制品お含量せ

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