3650年先进的SoC /模拟测试系统模型

AdvancedSoC / AnalogTestSystem
Caratteristiche principali
  • 50/100 MHz时钟频率
    100/200 Mbps (MUX)数据率
  • 640数字I / O引脚(testhead 2)
  • 32 MW向量记忆
  • 32 MW模式指令内存
  • Per-pin时机/ PPMU /频率测量
  • 扫描功能2 g深度/扫描链
  • ALPG选择记忆测试
  • 40高压针
  • 8-32 16位加入渠道的选择
  • 32位高性能DPS渠道
  • 边缘位置精度±300 ps
  • 32-CH HDADDA混合信号的选择
  • 8-CH AWG和数字化仪麻生太郎混合信号音频带测试选项
  • 40脉冲60 v MPVI模拟选项
  • 32-CH /董事会VI45模拟选项
  • 8-CH /董事会PVI100模拟选项
  • MRX选择第三方PXI仪器
  • 微软视窗系统®windows 7 /®10
  • c++和GUI编程接口
  • 清晰、直观的软件工具
  • 其他平台的测试程序和模式转换器
  • 直接接受DIB和探针卡的其他测试人员
  • 支持STDF数据输出
  • 气冷式、小足迹tester-in-a-test-head设计

半导体制造是一个快速移动的行业;越来越多的设备与各种功能高度集成。资本设备必须建立比几个设备代和应用程序。品种的可用选项,如测试AD / DA转换器,ALPG记忆测试、高压聚乙烯、多个扫描链测试,VI45, PVI100 & MPVI模拟测试选项,麻生太郎& HDADDA混合信号测试选项,浓度3650可以为客户提供广泛的覆盖测试灵活配置不同的设备。

浓度3650是一个SoC测试人员和高吞吐量、高并行测试功能为生产线提供最具成本效益的解决方案,IDM和测试。完整的功能测试,精度高、功能强大的软件工具和优秀的可靠性、高性能单片机3650通用的测试功能,模拟集成电路,消费SoC设备、晶圆测试应用程序。

高性能低成本生产系统

3650年达到降低测试成本不仅通过减少测试人员的成本系统,还通过测试更快更多的设备和高并行测试能力。色PINF IC和复杂的校准系统,3650年的总体时间精度±550 ps。3650年的模式发生器多达32 m模式指令内存。通过相同的深度向量记忆,浓度3650允许添加模式为每个向量指令。

此外,强大的顺序模式发生器提供了多种模式复杂的测试向量的命令来满足要求。真正test-per-pin架构和灵活的网站没有槽边界映射设计多站点测试高吞吐量。640数字别针,32个设备电源、per-pin PMU和模拟测试能力,高3650提供的组合测试性能和吞吐量和具有成本效益的测试解决方案。

高并行测试能力

3650年强大的、多才多艺的平行销电子资源在多个针可以同时执行相同的参数测试。3650集64数字针到一个单一的LPC的董事会。在每个LPC的董事会,它包含16个高性能浓度PINF ICs支持4频道定时脉冲发生器。本地控制器电路的集成管理资源设置和结果读出,因此削减开销时间系统的控制器。any-pin-to-any-site映射设计,3650提供了多达32个站点高通量并行测试功能扩大的大规模生产性能更加灵活和简单的布局。

灵活性

半导体产业是一个快速移动,资本设备必须建立比几个设备代和应用程序。品种的可用选项,如测试AD / DA转换器,ALPG记忆测试、高压聚乙烯、多个扫描链测试,VI45 & PVI100 & MPVI模拟选项,浓度3650多年来确保它将为您服务。

此外,浓度3650平台体系结构允许开发的主要工具由第三方供应商,可以很容易地添加为特定的应用程序。它可以延伸的边界测试,覆盖更广泛的设备比以往任何时候都可能在一个低成本生产测试系统。

占用空间小

气冷式和占用空间小tester-in-a-test-head设计,3650年高度集成方案提供高吞吐量最小面积。大型机内阁包含配电单元和第三方工具的空间。一个可选的操纵者,3650可以用于包和圆片测试。


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