应付高速测试趋势、多针和复杂功能未来新代ChromaVLSI测试器3380D/3380P/3380采用了较灵活结构高集成密度强功能
3380D/3380P/3380测试系统有四线HD六源和任意高并行测试函数(256I/O针并行测试256I/O针测试256IC测试),可满足未来更高IC测试需求
测试系统还建在DC电机架设计中,提供小脚印/清晰电源ATE系统,成为极具竞争力的价格/性能比测试系统
3380D对IoT应用最理想,特别是成本敏感设备,如MCU、MEMS和MCU综合功能VLSI测试系统,包括3380D/3380P/3380序列,在中国市场得到广泛使用
完全应用满足寄存ics
逻辑学、ADA、RF(MCU)、LED、Power、ALPG、Match等
