高速测试趋势、多插针和复杂函数整合现代半导体行业Chroma3380VLSI测试系统3380D/3380P/3380模型根据不同的插针计数和并行测试能力应用强功能,提供完全测试解决方案满足客户成本和性能需求
装有最长1280I/O信道、256VI源、弹性架构和全选函数板的3380VSLI测试系统可满足高并行多站测试趋势嵌入式1024i/O插件可并行测试1024i除支持单四线HDVI源IC外,Mini和MicLED驱动IC、CMOS图像传感器(CIS)和3D图像通过可调整结构测试IC测试广度应用
3380可连接3380D(256插件)3380P(512插件)提高生产率需求不论安装、稳定、友用户接口或高成本/性能比,大华市场都广泛验证并采行3380SeriesVLSI测试系统
应用
- MCU设备
- ADC/DAC混合信号IC
- 逻辑IC
- ADA
- ALPG系统
- 智能卡
- CMOS图像传感器
- PowerIC类
- 消费者IC
- LED驱动
