满足所有类型的半导体组件的测试需求
通过半导体技术的进步，世界被推动改变。这是人工智能遇到5G的时候，自动驾驶汽车符合大数据分析，一切都合并为便携式设备。半导体测试系统需要转换为一个新时代，在这个新时代，各种功能需要集成到一个小型系统中。基于PXIE的新兴平台为满足新时代的需求提供了一个良好的可行途径。Chroma的PXIE半导体测试解决方案为我们的客户提供了一个多功能的工作场所，以完成半导体测试，同时集成了来自不同供应商的功能仪器模块。
半导体测试类设备电源不妥协
Chroma 33020基于PXIE的可编程电源卡是一个高度集成的电源模块，随附半导体测试所需的一切。它具有8个独立可编程的直流电压的最高密度在250mA时从-6V到12V，在500mA时为6V，具有可编程电压和电流夹紧。输出可以将其与输出电流最大为4A一起将其结合在一起。对于半导体测试应用，这些设备电源还具有16位力电压水平和500KSPS采样率的18位测量电压分辨率，可提供较高的精度。设备设置的时间也可以大大改善，而安装时间从50US到500US，以达到所需的最高测试速度。
专有软件，工艺和其他软件支持的丰富功能
除了支持Labview和LabWindows环境外，Chroma还提供专有的软件套件，即Craft。在Microsoft Windows操作系统上运行的Craft包含来自测试程序开发，调试，生产和维护的半导体测试的完整工具。生产工具包括使用易用的GUI软件，例如操作员界面，测试数据输出，安装层和序列控制，晶圆映射，摘要工具以及富集设置Prober/Handler驱动程序。用户调试工具包括Datalog，Plan调试，TCM，SHMOO，模式编辑器，波形等。它还支持LabView和LabWindow环境，并提供了调试工具的子集。此外，还支持第三方CAD进行ATE模式转换工具，以覆盖WGL/Stil/VCD/EVCD转换。
