Chroma Ate介绍溶液的介绍pour de de test de de Composant tws（真正的无线立体声）倾斜液测试Radiofréquence（Wireless/ RF）etMicrocontrôlour（MCU）Ainsi Que la Mesures deSignauxNumériques，Amalogiques et Hybrides。La gamme comporte deux testeurs : Le Chroma 3380, solution économique qui répondra aux attentes visant à offrir une solution d’entrée de gamme économique et la série Chroma 3680 plus rapide et offrant de possibilités pour répondre pleinement aux besoins les plus innovants que demande les composants TWS haut de gamme.
Depuis QuelquesAnnéesLesComposant Tws sont de plus en plusutilisés。Alors que dans les premières années ils étaient juste installés dans les écouteurs et contrôlaient de simples CI Bluetooth ou des signaux audio, de nos jours les puces TWS trouvent leurs applications dans les haut-parleurs intelligents, les haut-parleurs sans fil, voire dans lesAppareils Vestimentaires。de part lus e evelme le teste de ces eévoluéen passeant de simples essais de Communication bluetooth，de test -ableogiquique out test test test test testers test anctuant ofutuals teste uségalementles les Animentations，laMémoire，les capteurs et bien bien d'Autres encore。
Les testeurs de semi-conducteurs Chroma ATE sont reconnus depuis longtemps par l'industrie pour leur haut degré d'intégration logicielle et matérielle, ainsi que pour l'excellente qualité des tests numériques et analogiques qu’ils permettent de réaliser le tout à des prix raisonnables. La série Chroma 3380 est, sur le marché chinois, la solution la plus utilisée pour le test MCU. La série Chroma 3380 permet également de réaliser des tests Bluetooth complets RF grâce à plus de 90 dB de rapport signal / bruit lors des essais audio, ce qui permet de répondre à la totalité des exigences de test. Pour les produits plus haut de gamme offrant une haute sensibilité, la série Chroma 3680 réalise des tests à cadence élevée et permet des mesures d'une extrême précision des tensions et des courants. Ses capacités de mesure sur les signaux hybrides offre un rapport signal/bruit de plus de 110 dB. L'interface de test pour signal RF est spécialement conçue pour permettre son montage et démontage rapide sans perte de performance, caractéristique indispensable pour le test des TWS haut de gamme.
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成本效益Chroma 3380 |
高性能Chroma 3680 |
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1280 PIN MCU测试 |
2048 PIN SOC测试 |
