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画廊视图 列表视图 光子学晶圆探测测试系统58635型系列 最高可达6英寸wafer 支持QCW和CW的运作 LIV测试,近场测试,远场测试,LIV-λ和NF二合一测试 添加到查询购物车 晶片芯片检测系统型号7940 同时双面色检 6" wafer/8" inspection area 晶片自动对齐 薄片形状/边缘识别 添加到查询购物车
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