为了应对高速，许多引脚和复杂功能的IC测试趋势，最新一代的Chroma的VLSI测试系统（3380D/3380P/3380）采用了更灵活的体系结构，具有更高的集成密度和功能强大的密度功能。
3380D/3380P/3380测试系统具有4条电线HD VI源和任何针对任何站点高平行测试（多站点测试）功能（512 I/O PINS，可以平行测试512 ICS）即将到来的更高的IC测试需求。
测试系统3380p还内置了多合一设计（仅适用于测试头），以提供少量的足迹/清晰的功率，以成为非常有竞争力的价格/性能比率测试系统。
丰富的功能和广泛的覆盖范围
逻辑，MCU，ADDA（混合信号）；电源，LED驱动程序，D级；扫描，ALPG，比赛和等。
