满足所有类型的半导体组件的测试需求
通过半导体技术的进步，世界被推动改变。这是人工智能遇到5G的时候，自动驾驶汽车符合大数据分析，一切都合并为便携式设备。半导体测试系统需要转换为一个新时代，在这个新时代，各种功能需要集成到一个小型系统中。基于PXIE的新兴平台为满足新时代的需求提供了一个良好的可行途径。Chroma的PXIE半导体测试解决方案为我们的客户提供了一个多功能的工作场所，以完成半导体测试，同时集成了来自不同供应商的功能仪器模块。
半导体测试类设备电源不妥协
Chroma 33020基于PXIE的可编程电源卡是一个高度集成的电源模块，随附半导体测试所需的一切。它具有8个独立可编程的直流电压的最高密度在250mA时从-6V到12V，在500mA时为6V，具有可编程电压和电流夹紧。输出可以将其与输出电流最大为4A一起将其结合在一起。对于半导体测试应用，这些设备电源还具有16位力电压水平和500KSPS采样率的18位测量电压分辨率，可提供较高的精度。设备设置的时间也可以大大改善，而安装时间从50US到500US，以达到所需的最高测试速度。
Proprietary Software, CRAFT and Other Rich Features of Software Support
In addition to supporting the LabView and LabWindows environment, Chroma provides a proprietary software suite, CRAFT. CRAFT, running on Microsoft Windows operation system, contains the full set of tools for semiconductor test from test program development, debugging, production and maintenance. The production tools include easy-of-use GUI software such as Operator Interface, Test data output, Binning and Sequence Control, Wafer Map, Summary Tool, and rich sets prober/handler drivers. The user debugging tools includes the Datalog, Plan Debug, TCM, Shmoo, Pattern Editor, Waveform, etc. It also supports LabView and LabWindow environment and a subset of debugging tools are provided. In addition, a third party CAD to ATE pattern conversion tool is also supported to cover the WGL/STIL/VCD/EVCD conversions.
