光子晶片探测测试系统模型58635系列

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主要特点
  • 参考:ISO/IEC标准
  • 最多6英寸晶圆
  • 温度:
    • 大范围
    • 精确的温度控制
  • 支持QCW和CW操作
  • LIV-λ测试:型号58635-L
    近场测试:型号58635-N
    FAR现场测试:型号58635-F
    LIV-λ和NF两合一测试:58635-LN
  • 支持多站点测试
  • 高速短脉冲选项

Photonics设备技术的进步继续使行业中更广泛,更苛刻的应用程序。例如,激光二极管和VCSEL的使用已扩展为除通信应用程序以外的各种消费产品。亚博app下载网址为了满足许多新设备应用的测试需求,Chroma开发了一系列激光二极管晶圆测试仪,该58635系列专门为使用专有的光电测量技术而设计的专门为消费者应用而设计。

58635系列最多可以测试6英寸的晶圆,并满足与Chroma精确设备集成的激光二极管测试的严格要求,例如SMU(源和测量单元)和温度控制器。由于光电特性和激光二极管的参数通常差异很大。借助温度,58635系列的精确温度控制旨在确保测试最稳定,最准确的测量。

58635系列包括四种类型的模型,适合不同要求,包括LIV /波长,近场,FAR场和LIV和NF两合一测试。

LIV-λ测量

58635-L模型使用Chroma的准确稳定电流源以及电压测量功能提供准确的光功率和波长测量。该系统配备了集成球体和高分辨率光谱仪。所有LIV和波长相关参数都可以通过配备具有完整测试功能的Chroma专有软件来测量。

近场测量

58635-N模型为激光二极管近场束质量以及符合ISO标准的传播比提供了快速,精确的测量。

远场测量

58635-F模型提供了准确的激光二极管远场光学特征,例如激光发射角和束轮廓分析。该测试系统还能够定位远场梁曲线的最高强度点,以确保符合IEC人眼安全标准。

LIV-λ和近场二合一测量

58635-LN可以通过一个探针触地得分测试所有LIV-λ和近场测试项目。专有的两合一光头设计允许同时测试LIV-λ和近场。现在,这两种测试都可以用一个探针标记进行,并在同一系统占地面内减少了整体测试时间,从而节省了珍贵的清洁房间空间。

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