Chroma 58212-C是一种具有精度温度控制的自动外延晶片/芯片探针测试系统，可为广泛的激光二极管和灯光发光二极管（LED）产品应用提供快速准确的光电性能测量和多站点测试。
58212-C探针测试仪具有灵活的设计，可为不同类型的光电组件（包括横向，垂直和翻转芯片）提供测试。预测试扫描程序提供了完整的晶圆映射以确保测试准确性，而我们的专利探针尖端则防止了DUT的刮擦并确保适当地进行每个芯片接触。
Chroma 58212-C的自定义多站点设计支持在单个探针中测试多个位置，稳定测试，节省测试时间并提高测试性能。
Chroma的独特光学设计使测试工程师能够快速获得准确稳定的光学数据，例如光功率，中心波长，峰值波长，最高（FWHM）和色温的全宽度。同时，可以在一个单一的探针中获得诸如正向电流，正向电压，泄漏电流，反向故障电压，斜率效率和光电转换效率的光学数据。
58212-C的软件接口和高级逻辑算法显着提高了生产效率。全面的测试报告和收益统计范围使用户可以轻松地处理生产。
测量项目
电测量
- 阈值电流（ITH）
- 正向电压（VF）
- 反向泄漏电流（IR）
- 反向故障（VRB）
光学测量
- 光电（PO）
- 中心波长（WC）
- 峰波长（WP）
- 最大宽度（FWHM）
硬件
- 自动LED晶圆/芯片专家
- 电测试模块
- 光学测试模块
- 可选的ESD测试模块（LED应用程序）
