Chroma 52400E系列是基于PXIE的SMU（源测量单元）卡，旨在使用精确电压和电流测量值高度准确的源或负载模拟。
SMU将四季度操作与精确和高速测量相结合。这使得SMU成为许多参数测试应用中的理想仪器，从ICS，两个导管的组件（例如传感器，LED，激光二极管，晶体管）到太阳能电池，电池和许多其他电子设备。
52400E系列功能：16个可选的控制带宽，以确保高速输出和稳定操作；具有18位DAC/ADC的多源/测量范围，可提供最佳的分辨率和精度，采样率高达100K/s；电池模拟的可编程内部系列电阻；±力，±感应和±守护线以避免泄漏电流并减少沉降时间 - 特别有用。
52400E系列具有专利的硬件序列引擎，该引擎使用确定性时序来控制每个SMU。音序器的板载内存最多可以存储65535个音序器命令和每个通道的32K测量样本，从而允许交叉模块/卡同步和无延迟无输出控制和测量。在执行硬件测试器测试过程中，无需PC通信。
C，C＃，LabView，LabWindows API和Versatile软的前面板标配每个SMU。背部连接器与PXIE和混合动力底盘兼容。所有这些功能都可以轻松地集成到PXIE或PXI-HYBRID系统，专为广泛的应用而设计。
四个象限操作
所有Chroma 52400E系列SMUS SMUS支持四象限操作，用于需要反向电压/电流源或负载的应用。在负载操作过程中，该模块受PXI底盘的标准为20W散热器的标准。下面显示的是具有色度pxie smus的操作区域的象限图：
控制带宽选择
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为了减少测试时间，Chroma的SMU设计用于快速响应，提供高速输出电压和电流。DUT，固定装置或电缆的阻抗可能在电压或当前源模式下导致循环不稳定性。不稳定的循环会导致饱和，振荡甚至损坏DUT。 为了减少测试时间，Chroma的SMU设计用于快速响应，提供高速输出电压和电流。DUT，固定装置或电缆的阻抗可能在电压或当前源模式下导致循环不稳定性。不稳定的循环会导致饱和，振荡甚至损坏DUT。为了防止系统不稳定性，52400E系列SMU提供16个用户可选的控制带宽，从而消除了对DUT附近放置的外部电容器或电感器的需求。这会导致输出时间更快，减少了电压纹波和噪声，并减少了瞬态响应。可以通过软件修改控制带宽，以最大程度地提高测试灵活性，并在更改DUTS时最大程度地减少停机时间。 |
唯一的硬件音序器
Chroma Hardware Sequencer是一种强大的工具，可以预先定义命令作为仪器可执行步骤。由于执行过程中不需要PC交互，因此这允许延迟自由控制和测量。该序列优化了模块的性能，例如半导体测试，其中速度和时序控制至关重要。在此模式下，一旦仪器收到启动触发器，它将按线路或按触发器定义的序列表中执行命令。
为低电流申请保护
保护是非常低的当前测量值的重要技术。防护可减少泄漏电流误差并减少结算时间。它使防护官的潜力保持与力导体相同的潜力，因此电流不会在部队和后卫导体之间流动。它还消除了源测量单元（SMU）和DUT之间的电缆电容，以更快，更准确。
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主/从运营
为了最大程度的灵活性，当需要在FVMI模式下较高电流时，Chroma 52400E系列SMU允许主/从操作。为了确保模块之间的准确电流共享和最大性能，Chroma SMUS仅允许与更高的电流/功率平行的类似模型。
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