为了应对未来IC测试高速、引脚众多、功能复杂的趋势,Chroma最新一代的VLSI测试系统3380D/3380P/3380采用了更加灵活、集成度更高、功能强大的架构。
3380D/3380P/3380测试系统具有4线HD VI源和任意引脚到任意站点高并行测试(多站点测试)功能(512 I/O引脚并行测试512 IC),能够满足未来更高的IC测试需求。
测试系统3380P还内置了一体化设计(仅用于测试头),以提供一个小的占地面积/清晰的功率ATE,成为一个非常有竞争力的价格/性能比测试系统。
功能丰富,覆盖面广
逻辑,单片机,混合信号;电源,LED驱动,D类;SCAN, ALPG, Match等。