为了应对未来IC测试高速、引脚众多、功能复杂的趋势，Chroma最新一代的VLSI测试仪3380D/3380P/3380采用了更灵活的架构，集成密度更高，功能更强大。
3380D/3380P/3380测试系统具有4线HD VI源和任意引脚到任意站点高并行测试(多站点测试)功能(256个I/O引脚并行测试256个IC)，能够满足未来更高的IC测试需求。
该测试系统还内置直流电源机架设计，以提供一个小的占地面积/清晰的功率ATE，成为一个非常有竞争力的价格/性能比测试系统。
3380D将是物联网应用的理想选择，特别是对成本敏感的设备，如MCU、MEMS和具有集成功能的MCU。包括3380D/3380P/3380系列在内的VLSI测试系统已在中国市场广泛采用。
完整的应用程序，以满足真正的ic
如Logic, ADDA, RF(MCU)， LED, Power, ALPG, Match等。
