19501 - k浓度局部放电测试仪是一个仪器配备交流耐压试验和局部放电检测功能,提供0.1 kv ~ 10 kv的交流输出,0.01μa ~ 300μa的泄漏电流,和1个人电脑~ 2000 pc为测量局部放电检测范围。它是专门为测试高压半导体组件和高绝缘材料。
浓度的产品设计19501 - k局部放电测试仪是兼容IEC60270-1标准特别是局部放电测试要求高电压。采用窄带测量技术来执行PD测试,并在屏幕上显示测量结果与直观的值(pC)允许用户清楚地理解DUT(测试设备)的测试结果。
除了IEC60270-1, PD tester也是IEC60747-5-5 VDE0884兼容。其嵌入IEC60747-5-5测量方法可以满足光耦合器的生产测试需求,提供一个用户友好的操作界面。
生产线上执行高压测试时,如果DUT差连接到测试电缆,它可能导致测试失败或跳过。因此,重要的是要确保DUT和测试电缆连接。色度独特的高压触点检查(HVCC)使用开尔文测量来执行测试高绝缘组件接触高压输出,同时提高测试效率和生产力。
当固体绝缘空气间隙或杂质混合在隔热层,高电场强度集中在空气间隙额定高电压下将导致局部放电。连续局部放电会恶化周围的绝缘材料,影响电子产品的长期可靠性,造成安全隐患。亚博app下载网址
从局部放电长期损害安全组件用于电力系统、光耦合器等,使这些组件的绝缘失败导致潜在的危险。IEC60747-5-5标准控制,生产过程中局部放电测试(常规试验)必须执行100%,不到5个人电脑放电容量最大绝缘电压下确保局部放电不会发生在正常的工作环境。
局部放电测试人员提供了高绝缘耐压测试局部放电检测,承受高压光耦合器等组件,高电压继电器,高压开关,以确保质量和可靠性。
局部放电是当地的介质击穿绝缘系统的一小部分,在电场强度超过绝缘材料击穿点;这并不桥两个导体之间的空间。
局部放电测试电压适用于DUT在一定条件下测量局部放电(PD)。除了验证的能力承受瞬态高压(高压绝缘试验测试),它也验证额定工作电压的绝缘的完整性。局部放电测试可以检测是否有不正常的空气间隙的电气元件采用收费略高于最大额定电压。这也正常电压条件下测试其长期可靠性。虽然不可能是100%免费的空气间隙绝缘材料在实际生产过程中,内部的IEC60747-5-5光耦合器标准还定义了局部放电测试,放电容量不能超过5个人电脑(qpd = 5个人电脑)。
解释P。D时空白存在内固体高工作电压下绝缘子
- 空气的介电系数低于绝缘材料的介电系数导致空间电场强度高于正常的绝缘。
- 空气的介电强度是低于绝缘材料,导致容易放电的空白。
Ca:等效电容剩余的固体
答:气隙的等效电容
答:等效电容系列固体和固体的空白
局部放电测试仪用于测量微小放电值(pC),这个小放电信号非常小而快。因此,局部放电测试人员必须准确地校准,确保高频放电信号可以准确测量局部放电发生时。标准电容器C0使用的校准器通常是一个低电压电容器。局部放电测试仪校准没有应用任何输出电压进行PD校正时(q0= V0C0)与PD校准器。
U:高电压供应
Z:过滤器
Ca:测试设备
Ck:耦合电容器
Zm评选:输入阻抗的测量系统
CD:耦合装置
答:连接电缆
心肌梗死:测量仪器
答:电压发生器
V0:电压步
19501 - k浓度是一个高精度局部放电测试人员配备200和2000两种测量范围从1 pc - 2000电脑,最好的距离分辨力200 pc是0.1。测量结果的高精度测量和直观的显示在屏幕上方便小排放高度绝缘的评估和分析对象。
局部放电测试人员有一个建在窄带滤光片测量小排放;然而,用于测试的设备在生产不同于那些在实验室作为噪声和干扰包括自动化机械操作,电机运动,或高频辐射等等。所有这些影响的测量和评估PD。预防和减少局部放电测试仪的测量电路不受高频辐射干扰是一个大问题,制造商和自动化设备供应商。
局部放电发生快,通常在纳秒(nS)和在较高的频率。因为信号很小,测试人员很容易受周围的影响高频辐射造成测量误差。准确地测量PD能力和避免高频辐射的干扰是设计局部放电测试仪的技术挑战。
▲抗干扰结构designVpd
浓度的环境中不可避免的高频辐射干扰,因此另一个设计的测量和显示装置应用于19501 - k的局部放电测试仪。可拆式测试模块可以测量DUT的最亲密的方式来减少干扰引起的长电缆。同时,测量电路使用信号隔离设计探针提供一个出口的最短循环测试结束,和一个铜环隔离环境辐射低电压电路一端防止PD测量电路被外部噪声干扰。
▲浓度19501 - k
使用单独的建筑设计,有助于减少高频辐射干扰保证测量精度。
▲PD其他品牌的测试人员:
伸长测试电缆接触DUT,它允许干扰由于高频辐射在周围的环境中,导致测量不准确。
光耦合器的应用标准
IEC 60747-5-5标准的电气安全要求和测试方法相关的光耦合器明确定义为光耦合器组件的安全使用提供指导。19501 - k浓度局部放电测试人员符合电气安全测试要求和测试方法标准中指定的局部放电测试必须执行100%光耦合器生产和提供给制造商。局部放电测试设置的电压乘以名义最大工作电压或最大重复绝缘峰值电压(哪个更高)的局部放电测试电压的1.875倍。计算公式如下:
符合IEC 60747-5-5和0884 VDE标准测试
19501 - k浓度建立了在测试方法(b1), (b2)和(b3) IEC60747-5-5所需的光耦合器行业标准,并使用图形化显示,协助程序编辑,这促进了仪器操作、提高使用效率。
▲方法(b1)
▲方法(b2)
▲方法(b3)
三个阶段的电压测试
除了满足光耦合器和局部放电测试要求在生产过程中,一些制造商要求更高的测试电压进行耐压测试与PD检测对提高组件的质量和维护严格的内部质量控制。然而,仍然需要减少电压(Vpd)指定的标准进行检查后再严格的测试,以确保产品符合标准的要求。19501 - k浓度独特的三个阶段电压测试功能设计,以满足这些要求。
PD失败数设置
局部放电测试人员必须能够精确测量小流量时绝缘质量测试的组件。当PD发生时,信号非常小,容易干扰的高频辐射环境,导致偏离的测量。因此,减少外部干扰造成的误判,19501 - k浓度局部放电测试仪提供PD失败数的设置保证测量放电容量DUT的而不是周围的环境。
当一个局部放电测试仪适用于高压固体绝缘,它遵循的放电容量产生周期性放电的电压变化。因此,放电容量相对稳定和连续相比,高频率的噪音环境。19501 - k设计计算生成的放电容量至少一次连续四个半波电压,并计数一旦当它超过最大放电容量。如果放电不发生不断,PD失败数将重置为零,重新计票,直到连续数超过一组数和测试结果是失败的决定。
▲例子描述- PD失败的数量设置为5申先生
HVCC(高压触点检查)
是非常重要的执行检查接触高绝缘组件在高电压输出。浓度的独特HVCC(高压触点检查)函数使用开尔文测量执行接触测试高绝缘组件时,高压输出,同时增加了测试的可靠性和效率。电路连接图如下所示。
