Chroma 7505-01是最新的多功能光学检测系统，可同时测量1D、2D和3D。穿透反射法用于一维薄膜厚度测量，测量透明和半透明材料上的无损薄膜厚度。2D测量可以使用高分辨率线扫描摄像机和计算机控制平台进行水平扫描，测量范围高达700mm x 900mm。同时，该舞台具有真空吸力，可以将触摸屏、电子纸、AMOLED等软显示器吸成一个平面。该系统适用于各种微纳级和大尺度的测量。二维缺陷测量能够检测气泡、划痕和异物等缺陷。三维测量功能可以分析二维缺陷的高度和深度，这在传统的二维检测中是无法实现的。
目前3C产品正亚博app下载网址朝着小型化方向发展，半导体、平板、平板显示、PCB、软显示、电子纸、OLED、微电子机械系统(MEMS)、电子封装等相关上游行业都在要求更小的2D/3D测量尺寸。各测量尺寸的精度可以反映产品的质量和性能，因此在制造过程中对产品尺寸和质量的监控要求越来越高。Chroma 7505-01能够提供微纳米级1D、2D、3D多功能测量，满足各个行业和研究单位的需求，是提高效率和节约成本的最佳选择。