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Chroma 58212-C具有自动的LED晶片/芯片探针测试仪，可快速准确的LED测量，测试时间小于125ms。^*1

可以修改系统以支持不同的LED结构，包括横向，垂直和翻转芯片设计。集成的扫描仪提供自动晶片映射，以确保精确测试。获得专利的探针头可防止设备划痕并确保与每个LED的牢固接触。

Chroma的独特设计获取和分析光学数据，例如显性波长，峰值波长和CCT。此外，它提供了基本的电气数据，例如正向电压，泄漏电流和反向故障电压，这都是一个测试步骤。

58212-C包括一个用户友好的图形接口和高级逻辑算法，可显着提高生产效率。全面的统计报告和分析工具可以轻松控制和质量生产管理。

注意 *1：300UM样品螺距下的测试条件，5个电测试参数和1个光学参数。由于LED特性的差异，测量结果可能会有所不同。

电参数

• 正向电压测量（VF）
• 反向故障电压测量（VRB）
• 反向泄漏电流（IR）
• SCR检测

光学参数

• 光功率（MW，LM，MCD）
• 主要波长（WD）
• 峰波长（WP）
• 最大宽度（FWHM）
• Ciexy -CCT -CRI

• 自动LED晶圆/芯片专家
• 电测试模块
• 光学测试模块
• 可选的ESD测试模块

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58212-C

LED映射探针测试仪

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