自动系统功能测试仪型号3240

AutomaticsystemFunctiontester
主要特征
  • 可靠的高速挑选和位置处理程序
  • 测试仪零等待时间
  • 鸥翼包装能力
  • 没有插座损坏
  • 空中阻尼器以达到接触余额
  • IC插入保护
  • NS-5000/6000更改套件兼容

Chroma 3240是在系统级别进行大容量/多站点IC测试的创新处理程序。它能够处理各种类型的包装,包括QFP,TQFP,BGA,PGA等。处理程序使用拾音器和放置技术从JEDEC托盘拾取设备,将它们移至测试站点,然后将其移动到适当的垃圾箱之后测试。它具有90度设备旋转,这是各种引脚方向所需的。

Chroma 3240可以在高温下与ATC(自动温度冷却)在50°C至125°C的高温下并行测试4个设备。


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