在光伏发电实现并网的诸多因素中，光伏组件的可靠性起着至关重要的作用。由于一些电池缺陷，如边缘芯片/薄片，电池表面的凸起被证明是c-Si光伏组件婴儿死亡率的来源，因此，检测这些缺陷对c-Si电池制造商非常重要。
然而，大部分电池缺陷是由晶圆继承的。因此，电池和晶片缺陷检查对最终光伏组件的质量和可靠性至关重要。
由于BIPV和屋顶应用的原因，即使是那些与可靠性问题没有直接联系的缺陷，如水印，表面污点，也必须被检测到，并被认为是c-Si电池的故障或二级电池。
传统上，这些缺陷是由操作人员目视检查的。但是，由于检测结果的不一致，使得全自动光学检测(AOI)成为c-Si电池和晶圆生产线不可避免的设备。
Chroma 7200系列特别设计用于检测各种尺寸和结晶的c-Si电池和晶片的各种缺陷。根据工艺需要，八名检验员可对入厂晶圆和最终电池进行分拣要求。
| 函数向导 | 7201 | 7202 | 7210 | 7212 - hs | 7231 | 7213年广告 | 7214 - d |
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| Sawmark | ✔ | ||||||
| 几何 (长度、角度、面积等) |
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| 表面污渍 (颗粒、水印、指纹等) |
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| 印刷缺陷 (脂肪、中断、节点等) |
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| 颜色缺陷 (颜色变化,现货,…等) |
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