Chroma参加台湾2022年的Semicon！在我们的展位上，我们将展示我们最先进的半导体测试和测量解决方案，并为访客提供一个新颖而令人兴奋的机会，以通过MR（混合现实）体验我们高精度的SOC测试系统。

高级SOC测试解决方案
这Chroma 3680高精度SOC测试系统满足汽车和AI等领域的尖端芯片的测试需求，并专门为日益流行的芯片系统（SOC）（SOC）和系统包装（SIP）应用程序设计。它提供多达2048 I/O频道的数字通道速率高达1Gbps，可为多达16克的集成扫描矢量内存提供支持，并提供各种测试模块供用户选择。该系统可以对设备电源（DPS）和参数测量单元（PMU），数字模式，内存，混合信号（AWG和数字化器）以及RF和无线通信进行各种测试。

RF芯片测试解决方案
这Chroma 3300/3380/3680 ATE测试系统与ADIVIC MP5806S提供多合一的RF芯片测试解决方案。它们的S参数和噪声图功能可以全面测试FEM，PA，Switch和LNA等组件。该系统还支持蓝牙，Wi-Fi，NB-iot，GPS/Beidou和其他（IoT）通信标准和调谐器应用程序，提供完整的RF芯片测试解决方案。

广泛测试要求的多功能PXIE测试平台
响应半导体测试的需求不断变化，Chroma推出了Chroma 3300 PXIE测试仪，在Ate仪器中提供高度灵活的测试解决方案。测试人员提供6、9和18个插槽的底盘配置，共有四个PXIE模块，包括数字I/O捕获模块，两个电源模块和一个继电器驱动器模块。除标准测试模式外，Chroma 3300平台还可以应用SLT方法，以极大地改善生产UPH。

电力组件绝缘质量的监护人
电动汽车（EV）和太阳能（PV）等新能源应用使用大量的电源组件进行能源转换。通常，电源组件上的电压下降或电压差很大，因此，功率组件必须具有良好的绝缘材料，以确保在正常工作条件下没有连续的部分放电以导致其质量恶化。Chroma 19501系列部分放电测试仪，符合部分放电（PD）测试的法规，通过将AC电压应用于功率分量，执行承受电压测试和部分放电测试。Chroma 19501系列通过检查是否在高压条件下发生任何连续的部分放电（PC中的PD）来确保功率组件的长期可靠性，并确保在正常工作条件下不会发生任何部分放电。

异构集成的高级软件包测试解决方案
随着半导体包装技术的继续变化和发展，异质和TSV（通过硅VIA）包装技术的结合已导致了2.5D/3D堆叠的IC和其他高级包装技术的高级开发。

Chroma 3200多功能平台- SLT（系统级测试）测试单元，有效处理可能与此类包装实践和方法论有机的各种相关问题。就像在IC表面的不稳定性一样，例如经常性和共面性问题，测试平台与IC Baare Die和高精度接触力结合在一起，打击了高功率计数密度基板，以及管理高功率ICS的温度控制，并与综合温度反馈等。虽然最终，这种3200个测试的电池解决方案可以提高产量并降低总体测试成本。

色度已经发展光学检查设备用于异质集成高级包装应用程序。Insitu AOI可帮助客户实时检测生产过程中的缺陷，从而提供更全面的生产质量控制。我们还开发了纳米级3D晶圆自动测试系统，该测试系统集成了当前在TSV，RDL和相关基本维度测量中使用的专有专利。

响应复合半导体应用的需求，例如5G通信，汽车电子和3D传感Chroma 7945中心晶圆检查系统可以在划分过程之前和之后应用，以提供生产过程中产量和缺陷的模具质量控制和分析。可以在一次运行中获得双面检查结果，从而降低生产成本和检查期间的晶圆合并损失。该系统还支持检查大型模具，例如LiDAR和PA（功率放大器），以及具有1.5μm的检查分辨率的边缘长度最高为20mm。

半导体材料的纳米颗粒监测系统
Supersizer成功地识别影响生产产量的液体化学物质的纳米颗粒和杂质，帮助加工工程师“在20纳米以下（NM）以下的技术淋巴结中“查看” Ultrafine颗粒。测量过程完全不受纳米泡的影响，准确地测量了小至3 nm的颗粒的大小和数量分布，并提供了一个全自动监测系统，以获取收益率和控制风险的处理。

在台湾2022年（9月14日至16日），Chroma Ate将在台北北看到霍尔（Booth k2876）1楼的1楼展示各种测试解决方案，并讨论在半导体化学溶液中的纳米颗粒监测技术的半导体化学解决方案。国际高级半导体检测和计量论坛。我们诚挚地邀请您参加测量领域的新趋势，并期待在展览层与您会面！