Chroma将在台湾2021年展示最新的半导体测试技术。除了现场测试设备展览外，Chroma还将加入在线半导体高级检查和计量论坛讨论激光扫描共聚焦显微镜以晶圆级光学元件应用。

复合半导体双侧检查解决方案
5G通信，汽车电子设备，3D传感和光学通信的快速发展推动了新一代半导体的需求。复合半导体可以满足这些需求，因为它们的高电子迁移率，直接带隙和宽带盖特性。新的Chroma 7945晶圆检查系统可以控制晶圆的质量，检测化妆品缺陷，并提高二齿前/后涂料过程中的产量。双方都可以在一次检查中检测到晶圆的缺陷，这将有助于降低过程成本并在检查过程中绘制合并损失。

高精度多媒体芯片测试解决方案
Chroma 3680 SOC测试系统有效地满足多媒体芯片的测试要求，因为它是为最新的芯片系统（SOC）和系统包装应用设计的。高精度测试系统提供2048 I/O频道，最多1GBPS数字通道速率，并发测试以及各种测试模型供您选择。它支持电源（DPS/PMU），数字图案，内存，混合信号（AWG和数字化器）以及RF无线通信的同时测试。

高度灵活的PXIE测试平台
为了响应不断变化的半导体测试需求，Chroma推出了高度灵活的Chroma 3300 PXIE测试仪成为自动测试设备的一部分。测试人员为6、9或18个插槽提供硬件配置，并集成了四个PXIE模块，包括数字I/O捕获，继电器驱动器和两个电源模块。除了标准测试模式外，您还可以通过SLT安排测试，以更顺畅，生产更快。

大量的RF芯片测试解决方案
结合ADIVIC MP5806S，Chroma 3380/3650 ATE测试系统形成完整的RF芯片测试解决方案。S-参数和噪声图功能提供完整的FEM/PA/pa/switch/lna组件测试项目。测试系统还支持蓝牙，Wi-Fi，NB-Iot，GPS/Beidou和其他（IoT）通信标准和调谐器应用程序，以进行更广泛的RF芯片测试。

部分排放测试的重要性
新能源应用的不断增长需要大量的功率组件，具有高需求电压开关和大型操作电流。良好的热量散热和良好的绝缘效果可承受散热器之间的电压是使功率组件在工作条件下不连续放电的关键，这可能会损害其质量。Chroma 19501部分排放测试仪检测高压操作下电源组件中的连续部分放电（PC中的PD），以确保产品的长期可靠性。亚博app下载网址

色度还提供与高级包装的异质整合的光学检查， 一个半导体晶圆测试平台的多样性， 和半导体材料的纳米颗粒监测。加入Chroma，在台湾2021年（12月28日至30日）中加入Chroma，以体验测试和测量的最新趋势。拜访我们的地位。K2976 on 1f，台北1厅1F展览中心。我们期待亲自或以数字方式与您会面！