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半导体制造是一个快速发展的行业。越来越多的设备与各种功能高度集成。必须建造资本设备以超过几代设备的几代和应用。具有各种可用选项，例如AD/DA转换器测试，用于存储器测试的ALPG，高压PE，多扫描链测试，VI45和PVI100模拟测试选项和HDADDA混合信号测试选项，Chroma 3650-EX
可以为客户提供广泛的覆盖范围，以测试具有灵活配置的不同类型的设备。

此外，Chroma 3650-EX平台体系结构允许第三方供应商开发专注的仪器，可以轻松地为特定应用程序添加。它可以通过在低成本生产测试系统中覆盖比以往任何时候都更广泛的设备来扩展测试的界限。

3650-EX不仅通过降低测试人员系统的成本，而且还可以通过更快地测试具有较高并行测试能力的设备来实现较低的测试成本。借助Chroma Pinf IC和复杂的校准系统，3650-EX的总体计时精度比其他低成本ATE更好。借助任何针对任何站点的映射设计，3650-EX可提供多达512个站点高吞吐量平行测试功能，以扩大质量生产性能，并更加灵活，更容易布局。

Chroma 3650-EX专门为高通量和高平行测试功能而设计，可为Fables，IDM和测试房屋提供最具成本效益的解决方案。3650-EX具有测试能力，高精度，功能强大的软件工具和出色可靠性的全部功能，非常适合测试消费者设备，高性能微控制器，模拟设备和SOC设备。

此外，强大的顺序模式生成器提供了各种模式命令，以满足复杂的测试向量的需求。无需插槽边界的真实测试架构和无插槽边界的灵活站点映射设计用于高吞吐量的多站点测试。最多可达640个数字引脚，32个设备电源，每个PIN PMU和模拟测试功能，3650可与具有成本效益的测试解决方案结合使用高测试性能和吞吐量。

3650-EX不仅通过降低测试人员系统的成本，而且还可以通过更快地测试具有较高并行测试能力的设备来实现较低的测试成本。借助Chroma Pinf IC和复杂的校准系统，3650-EX的总体计时精度比其他低成本ATE更好。3650-EX的模式生成器具有高达64m的深度模式指令内存。通过具有与向量内存相同的深度，Chroma 3650-EX允许为每个向量添加模式指令。此外，强大的顺序模式生成器提供了各种微观指令，以满足复杂测试向量的各种不同需求。硬件真实的每针体系结构和无插槽边界的灵活站点映射设计用于高吞吐量的多站点测试。最多可达1024个数字引脚，96个设备电源，每针PMU，混合信号和模拟测试能力，3650-EX提供了高测试性能和吞吐量的组合，并具有成本效益的测试解决方案。

3650-EX的功能强大的，多功能的并行引脚电子资源可以同时在多个引脚上执行相同的参数测试。3650-EX将128个数字别针集成到一个插槽中。在每个LPC板中，它包含支持时间生成的高性能Chroma Pinf IC。本地控制器电路的集成可以管理资源设置和结果读数，因此切断了系统控制器的开销时间。借助任何针对任何站点的映射设计，3650-EX可提供多达512个站点高吞吐量平行测试功能，以扩大质量生产性能，并更加灵活，更容易布局。

半导体制造是一个快速发展的行业。越来越多的设备与各种功能高度集成。必须建造资本设备以超过几代设备的几代和应用。具有各种可用选项，例如AD/DA转换器测试，用于存储器测试的ALPG，高压PE，多扫描链测试，VI45和PVI100模拟测试选项和HDADDA混合信号测试选项，Chroma 3650-EX可以提供宽阔的EX客户的覆盖范围，以测试具有灵活配置的不同类型的设备。此外，Chroma 3650-EX平台体系结构允许第三方供应商开发专注的仪器，可以轻松地为特定应用程序添加。它可以通过在低成本生产测试系统中覆盖比以往任何时候都更广泛的设备来扩展测试的界限。

Chroma 3650-EX Build-In-In MRX解决方案可以支持PXI仪器，该仪器可以为用户提供更广泛的覆盖范围。对于这些用户，使用PXI仪器进行设计验证和验证，他们可以将PXI仪器直接移至3650-EX进行生产。通过使用相同的PXI仪器，在设计阶段和生产中将发生不相关的问题。Chroma 3650-EX已成功整合了几种PXI解决方案，例如音频，视频和RF应用程序，不仅在硬件集成上，还用于软件中的堆积库和工具，以帮助用户更轻松地控制PXI仪器，并启用加速测试程序开发，降低产品开发，减少产品的产品开发上市时间。

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