为因应渊来IC芯片芯片结构更高速度及更多脚位更更功能的IC芯片，色度新一级vlsi测试系统3380d / 3380p / 3380除의采采更弹性外，整合密度更高且功能大大。
3380D / 3380P / 3380机构为因应高同测（高并行试验）功能，除内建独特的4-wire功能高度Ic电池（vi源）外，更具体件到任何网站高度功能（512 I / O PIN可并行测512个测试芯片），以因应源ic芯片芯片更高高。
3380p同时介一体化（仅测试头）的小型化，低耗能化设计及非常。
3380系列vlsi测试系统无论在装装机，稳定度，友善使用接口，及成本效益上，周末进出期间以于已于于于于于于于于已于已于于于于于于于于于于于于于于已已场获得广泛广泛。
满足各种应使用范围的芯片测试
逻辑，MCU，ADDA（混合信号）;电源，LED驾驶员，D类;扫描，alpg，匹配等
