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Chroma 7201可发来牌长度，宽度，对绕线，边缘夹角，导角尺寸以及导角等，同时也可检测表面瑕疵设计完善的繁体以及操表面瑕疵。检测参数来达到检测结果，同时也提供瑕疵显示以及储存功能来留待日后进行MES/CIM的分析以及整合。

• 可融合到任何硅片分类机上
• 可调整式的演算法可供5“，6”以及单晶，多重，准单位等各种硅片
• 多元化介面可与不锈钢或者mes系统系统线
• 可行的金属线切割切割的检测
• 自我监测监测校正正

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7201.

光伏硅片外观暨表面表面脏污手机

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