Chroma 19305系列绕线测试器，系列包含（Chroma 19305）单及（Chroma 19305-10）10通道输出测试，最高通道测试，6KV脉冲200MHz脉冲200MHz高速高速高速高速高速高速高速取样率量以上测试，拥有波形面积比较，面积差比较颤动颤动总量（Flutter）及及（laplacian）等等等
组件于电气电气特性，测试测试测试，而进行测试进行进行之自体自体自体绝缘绝缘不良不良通常通常通常是造成线圈于线圈于使用环境中中发生层间短路短路，可能源于不良加工制程不良绝缘材料等等所，故引起引起引起引起引起引起
所谓的测试基本上是以一「破坏性，高速，，低低能量能量之之之电电电电电压脉冲施加在待测物待测物待测物待测物待测物上上上上上波形以良否目的。绕线组件脉冲绕线组件脉冲测试主要乃在发现绕线绕线组件中中中各种种种种潜在潜在潜在之之缺陷缺陷之之缺陷缺陷缺陷之：层间层间之之之：层间层间层间层间
Chroma 19305系列针对组件需求设计设计设计，利用利用设计设计微小微小微小微小电容（测试测试电容电容电容电容），可检验绝缘不良局部放电放电，提供变压器放电等进行进行层间短路测试测试测试测试，让测试，让让让绕线绕线绕线绕线绕线组件组件生产生产生产厂商厂商质量质量质量效率为质量把关。
Chroma 19305-10对于对于测试需求提供扫描应用应用（10通道）
四种波形模式
- 波形面积（区域大小）
- 波形面积差（差分区域）
- 波形颤动总量（颤音值）
- 波形二阶微分数（拉普拉斯价值）