-
虐待
-
0询问车
快速菜单
Ladezustands（SOC）测试系统
Hochentwickeltes SOC/模拟测试系统
3680型
- 24 AustauschbareSteckplätzeFürDigitale，Analoge和混合信号系统
- 150 Mbps bis zu 1Gbps datenrate（gemischt）
- BIS ZU 512站点并联测试
- BIS ZU 2048 DIGITALE E/A-PINS
VLSI测试系统
Hochgeschwindigkeits-pxie数字 - io-karte
33010型
- 标准PXIE-BUSANSCHLUSS
- 100 MHz Maximale Taktfrequenz
- 32KanälePro Karte
ICBestückungshandler
Aktives Vollbereichs-Thermokontrollgerät
型号3110-ft
- 温度测试-40〜125°C
- Abschlusstest
- Paket 3x3 mm〜45x45x45 mm
EINZEL SITE-TESTHANDLER IM TISCHFORTAT
型号3111
- Die Maschine Ist So Konzipiert，Dass sie auf den tisch passt
- Jedec-Träger（2）
- IC-Einheiten：5x5mm bis 45x45mm
- konfigurierbareeinlagerungüber软件
Tri-temp八进制站点处理程序
3160-C
- ErweiterteWärmetechnik（Nitro-tec）
- Schnellere Indexzeit von 0,6 s
- aktivewärmesteuerungund kasterter tempaturbereich
- Kammerloses设计
- unterstütztmehrere站点（单，双方Quad-Teststelle（n））
Achtfach-Prüfstation
型号3180
- bis zu 8 Paralleleprüfvorrichtungen
- BIS 9000StückPro Stunde
- 温度测试bei einer umgebung bis 150°C
杂种 - 烯嗪
型号3110
- ft + slt -prüfstation -zwei inEinemGerät
- perfektfüriagerätetechnikzur erfassung和分析von eigenschaften
- 富含自动垫的/Entladen undGerätesortierungmöglich
- ↑